보유장비
주사전자현미경
Scanning Electron Microscope
- 분류
- 예약가능여부
- 불가능
- 담당부서
- 장비표준분류
- 광학·전자 영상
- 취득방법
- 1
세부정보
| 모델명 | Quanta 200 FEG | 제작사 | FEI |
|---|---|---|---|
| 제작국가 | 홍콩 | ||
| 구성 및 성능 |
· 해상도 : 2.0nm 이하(at 30kV) · STEM Mode : 1.5nm(at 30kV) · 배율 : 12-1000000배 · Sample stage : X=Y=50nm, Z=50nm |
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| 사용 예 |
· 고분해능과 고배율을 통한 시편의 미세조직, 형성관찰 · 특성 X-선을 이용한 시료의 성분분석 |
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| 장비 설명 | 10kV~30kV로 가속시킨 전자빔을 전자기 렌즈로 제어하여 시료에 조사시키면 비탄성충돌에 의해 2차 전자 후방산란전자 X-선 등이 방출. 이를 이용하여 시료의 고배율 미세조직 관찰 미세성분 분석 미세 집합조직 분석 등을 수행 | ||
| 사용료 (1h기준, 원) |
196,000원 | ||
| 설치장소 | 벤처산학협력관 105호 | ||
담당자정보
| 장비담당자 성명 | 한정수 | 휴대폰번호 | |
|---|---|---|---|
| 이메일 | rbc3716@hoseo.edu | ||
