보유장비
유도결합플라즈마분광분석기(ICP-OES)
Ion Coupled Plasma spectrometer
- 분류
- 예약가능여부
- 불가능
- 담당부서
- 장비표준분류
- 취득방법
- 1
세부정보
| 모델명 | OPTIMA 7300DV | 제작사 | 퍼킨엘머 |
|---|---|---|---|
| 제작국가 | 미국 | ||
| 구성 및 성능 |
*Spectrometer - Detector: High sensitivity SCD Dual detector - Wavelength range: 163-782 nm - Resolution: 0.006 nm at 200 nm - Plasma viewing mode: Axial, Radial Dual view(DV) - Automatically spectrometer align system * ICP system - RF: 40 MHz free-running solid-state RF generator - RF power efficiency: > 81% *Optic Sys.(Polychromator: Wavelength Range:167-785nm) *Multi-Mode Sample Introduction Sys. (Five Channels Peristaltic Pump:0-80rpm Speed) *Mercury/Hydride Analysis Sys.(ICP-OES Wavelength Calibration Solution:500ml) |
||
| 사용 예 |
무기원소의 극 미량 원소 분석용 1. 환경시료 중의 무기 원소 분석 2. 토양시료중의 무기원소 분석 3. 식품시료중의 무기원소 분석 4. 유기 및 무기 재료중의 극 미량 원소 분석 5. 먹는 물 중의 중금속 분석 6. 고분자 재료 분석 7. 광물 성분 분석 등에 사용 |
||
| 장비 설명 |
*유도결합 플라즈마 방출 분광법이란 여기상태의 원자나 이온이 방출하는 빛을 측정함으로써 정성 및 정량을 분석하는 방법이다. 원자의 발광은 자유원자나 이온을 불안정한 에너지 상태로 여기시킬 충분한 열적 에너지 원인 아르곤 플라즈마가 필요하며, 이렇게 여가된 원자와 이온들은 보다 안정한 배열이나 기저 상태로 떨어지면서 그 에너지 차만큼의 빛을 방출한다. 이때 방출되는 각 원소의 고유한 특성 파장(정성)은 분광계에 의해 분리되고 검출기로 그 세기(정량)를 측정하여 시료 중의 원소 농도를 알아낸다. *UDA (Universal Data Acquisition) processor *Dual View (DV) mode *Quick change torch mount의 특징 *간섭을 최소화 한 Plasma cutting gas(Shear gas) 사용 |
||
| 사용료 (1h기준, 원) |
72,000원 | ||
| 설치장소 | 안전성평가센터 104호 | ||
담당자정보
| 장비담당자 성명 | 한정수 | 휴대폰번호 | |
|---|---|---|---|
| 이메일 | rbc3724@hoseo.edu | ||
