공용장비안내 및 신청
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기타
투과전자현미경
Transmission Electron Microscopy
- 호실
- 벤처산학협력관 지하 1층 B10호
- 제조사(모델)
- Jeol(JEM-2100F)
- 상태
- 정상
원리 및 특성
특징
Acc. Voltage : 200 kV Electron Gun Emitter : ZrO/W(100) Schottky emitter Resolution: Point resolution in TEM mode- 0.23 nm Lattice resolution in TEM mode- 0.1 nm Lattice resolution in STEM mode- 0.2 nm
적용(응용)분야
소재의 정성 정량분석 구조분석 표면관찰 등
사용료
◎ 표기된 요금은 부가세(10%) 미포함
◎ 해당 요금은 교외요금 기준으로 교내의뢰시 20% 감면
◎ 표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
◎ 직접사용 가능 기기는 교내외 교육 후 이용 가능
| 구분 | 항목 | 단위 | 교내 | 교외 |
|---|
