보유장비
투과전자현미경 건 (TEM set 장비)
FE-GUN
- 분류
- 예약가능여부
- 가능
- 담당부서
- 장비표준분류
- 취득방법
- 1
세부정보
| 모델명 | FE-GUN FOR TEM-2100F | 제작사 | JEOL |
|---|---|---|---|
| 제작국가 | 일본 | ||
| 구성 및 성능 | Acc. Voltage : 200 kV Electron Gun Emitter : ZrO/W(100) Schottky emitter Resolution: Point resolution in TEM mode- 0.23 nm Lattice resolution in TEM mode- 0.1 nm Lattice resolution in STEM mode- 0.2 nm | ||
| 사용 예 | 시료의 미세조직 구조 및 단면 관찰, 회절상에 의한 원소 내부 정보, EDS 분석을 통한 정성, 정량 분석 등 | ||
| 장비 설명 | 투과전자현미경의 작동원리는 광학 현미경과 같으나 광학현미경의 광원이 빛인데 반하여 TEM의 광원은 가속 전자빔으로 시편을 투과하고 상의 배율 조절을 위해 전자 렌즈의 작용을 전장으로 조절하는 것이다. 즉, 관찰하고자 하는 재료의 파장보다 작은 가속 전자를 발생하여 매질에 투과시키면 결정면이나 결함 등의 정도에 따라 투과할 수 있는 전자빔의 강도차가 발생하게 된다. 이때의 투과된 빔강도 차이는 형광스크린에서 명암으로 나타난다. | ||
| 사용료 (1h기준, 원) |
0원 | ||
| 설치장소 | RIC관 107호 | ||
담당자정보
| 장비담당자 성명 | 한정수 | 휴대폰번호 | |
|---|---|---|---|
| 이메일 | rbc3716@hoseo.edu | ||
