보유장비
전자주사현미경
Scanning Electron Microscope(SEM)
- 분류
- 예약가능여부
- 불가능
- 담당부서
- 장비표준분류
- 취득방법
- 1
세부정보
| 모델명 | SNE-4500M | 제작사 | ㈜쎄크 |
|---|---|---|---|
| 제작국가 | 대한민국 | ||
| 구성 및 성능 | 최대 30만배율 측정가능 | ||
| 사용 예 | 시편 파단표면, 외부표면 관찰, 결정형태 확인 | ||
| 장비 설명 |
1.Resolution : 7.0nm (30KV, SE Image) 2.Magnification: x20 ~ x80,000 3.Image: Secondary Electron Image(SEI) 4.Accelerating Voltage: 0.5KV ~ 20KV(30KV Optional) 5.Electorn Gun: W(Tungsten), Pre-Align Cartridge Filament |
||
| 사용료 (1h기준, 원) |
0원 | ||
| 설치장소 | 제2공학관 312호 | ||
담당자정보
| 장비담당자 성명 | 한정수 | 휴대폰번호 | |
|---|---|---|---|
| 이메일 | rbc3716@hoseo.edu | ||
